Существует два типа эпитаксии: гомогенная и гетерогенная. Чтобы производить устройства SiC с удельным сопротивлением и другими параметрами для различных применений, подложка должна соответствовать условиям эпитаксии, прежде чем можно будет начать производство. Качество эпитаксии влияет на производит......
Читать далееВ производстве полупроводников травление является одним из основных этапов наряду с фотолитографией и осаждением тонких пленок. Он включает удаление нежелательных материалов с поверхности пластины химическими или физическими методами. Этот этап выполняется после нанесения покрытия, фотолитографии и ......
Читать далееПодложка SiC может иметь микроскопические дефекты, такие как дислокация резьбового винта (TSD), дислокация края резьбы (TED), дислокация базовой плоскости (BPD) и другие. Эти дефекты вызваны отклонениями в расположении атомов на атомном уровне. Кристаллы SiC также могут иметь макроскопические дислок......
Читать далее